DragonHD項目硬件檢測工具 v1.2.4綠色版

DragonHD是一款方便易用，功能強大的項目硬件檢測工具。軟件能夠提供一種無需下載固件，即可快速對硬件進行檢測、診斷的工具手段。支持1拖8，多平臺通用，PCBA 裸板通過USB連接PC進入測試，每臺設(shè)備可單獨輸出log，定位為診斷、連通性測試、穩(wěn)定性測試工具。最重要的是，該軟件使用起來也是非常的簡單方便，無需安裝，點擊即可使用有需求的朋友請下載體驗吧?。。?

軟件特點

1、測試便捷:裸板連接USB即可測試。

2、快速定位硬件連通性:能快速定位焊接不良的顆粒(如4*8的顆粒可定位到具體某顆焊接不良)。

3、測試時間短:1MIN可測試完一個loop，可迅速測試出穩(wěn)定性一般的case

4、調(diào)試問題便捷，對DRAM不穩(wěn)定的板卡，工具端迭代修改參數(shù)測試，較上系統(tǒng)驗證節(jié)省90%的時間

DragonHD使用教程

1、下載軟件壓縮包文件，點擊“DragonHD.exe”運行程序，可分為4個區(qū)域：

①操作區(qū)，工具的基本操作包含設(shè)置 DDR clk 頻率，設(shè)置循環(huán)次數(shù)和啟動/停止測試

②平臺用例區(qū)，選擇平臺后該區(qū)域顯示選定平臺的所有用例，用戶可屏開，收縮和勾選需要測試的用例

③測試信息區(qū)，該區(qū)域顯示設(shè)備測試進度，測試狀態(tài)，測試結(jié)果和過程日志信息

④軟件功能區(qū)，包含的操作包含打開配置模版，保存配置模板，更新升級，退出軟件

2、勾選平臺/用例

點擊平臺下拉選擇框選定要測試的設(shè)備平臺，區(qū)域 2 將顯示選定平臺的所有用例，用戶勾選所需測試的用例后，點擊“啟動”按鈕工具即進入設(shè)備檢測狀態(tài)，如下圖：

3、插拔設(shè)備

工具進入設(shè)備檢測狀態(tài)后即可插入待測試設(shè)備，樣機按量產(chǎn)方法使設(shè)備進入測試狀態(tài)，運行前必須不能同時運行其他燒錄工具如 phoenixsuit。首次使用的 USB 接口將會被記錄關(guān)聯(lián)，最多關(guān)聯(lián) 16 個 USB 接口，用戶必須在 USB 接口首次關(guān)聯(lián)后記下 USB 口與設(shè)備號的關(guān)聯(lián) ID，并在 USB 接口標記該 ID 號，如下圖插入設(shè)備后被關(guān)聯(lián)的設(shè)備 ID 為 1（設(shè)備 1 的顯示由灰變黑），即在該 USB 接口貼上標號：1。此后從此 USB 接口插入的設(shè)備信息都將記錄在“設(shè)備 1”一行。

注：USB 接口的關(guān)聯(lián)與機器相關(guān)，如需將工具打包發(fā)送或者需要清空關(guān)聯(lián)信息重新關(guān)聯(lián)，請退出工具并刪除工具目錄下名為 fels.bin 的文件

4、測試成功后結(jié)果顯示

5、查看日志

在設(shè)備檢測的過程中，設(shè)備被拔出之前，用戶可隨時點擊設(shè)備號右邊的“查看 LOG”查看應對設(shè)備的檢測日志。出現(xiàn)用戶誤操作情況：

①過早拔出設(shè)備并希望查看拔出前的日志時，需要查看設(shè)備拔出前的日志信息，即需手動打開工具目錄下的子目錄 LOG/，找到相應設(shè)備編號的日志文件打開即可。

②拔出設(shè)備后又在工具處于檢測狀態(tài)下插進了新的設(shè)備，這種情況下如需查看之前拔出的設(shè)備日志信息，即需手動打開工具目錄下子目錄 LOG/backup/，按設(shè)“備號-日期.txt”查找對應日志，工具只為每個接口保留最后 10 次插拔設(shè)備的日志信息，更早的日志信息被永久刪除。

6、停止檢測

在檢測過程中如需停止檢測，以更新勾選用例或者其他操作，可在所有正在測試的設(shè)備完成或者拔出后點擊“停止”按鈕，工具即退出檢測狀態(tài)，此時設(shè)備的插拔將不影響 USB 接口的關(guān)聯(lián)和日志的更新

7、保存/打開模板

用戶在勾選完平臺/用例，填寫后頻率和循環(huán)次數(shù)后，可點擊區(qū)域 1 的“保存當前配置”按鈕將勾選情況保存到特定文件，此后可在工具打開后點擊“導入配置”按鈕，選擇保存的模板文件，工具即恢復到之前保存的狀態(tài)，無需再次勾選

注意事項

1、因為測試時間短無法 cover 到所有不穩(wěn)定的 case，這些 case 可能需長時間老化測試才能暴露問題，所以本工具不能代替 DRAM 老化測試。

2、工具主要測試的是 DRAM 的 IO 性能，對 DRAM 內(nèi)部 CELL 的物理特性測試有一定局限性(這部分測試主要靠 DRAM 原廠保證)，所以測試工具如作為黑片篩選有一定風險。